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TA1360ANG Fiches technique(PDF) 48 Page - Toshiba Semiconductor |
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TA1360ANG Fiches technique(HTML) 48 Page - Toshiba Semiconductor |
48 / 108 page TA1360ANG 2003-01-21 48 Test Conditions SW Mode Note No. Characteristics SW1 SW2 SW3 SW7 SW56 Test Method (Test condition: VCC = 9 V/2 V, Ta = 25 ± 3°C) P09 Black level correction B A A B OPEN 1. Set black stretch point 1[18] to OFF (00). 2. Input signal of 0.7-V picture period amplitude to #3, and measure #43 picture period amplitude VB [V]. 3. Set black level correction [18] to ON [04], determine DC change VBLC [V], and calculate BLC [V] using the following equation BLC = (VBLC/VB)] × 100 [(IRE)] VB #43 VBLC Black level correction ON Black level correction OFF |
Numéro de pièce similaire - TA1360ANG |
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Description similaire - TA1360ANG |
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