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LC78626KE Datasheet(Fiches technique) 9 Page - Sanyo Semicon Device

Numéro de pièce LC78626KE
Description  CMOS LSI
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Fabricant  SANYO [Sanyo Semicon Device]
Site Internet  http://www.ssdc-jp.com/eng/
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LC78626KE
No.5995-9/33
前ページから続く。
端子
説明
端子名
I/O
端  子  説  明
リセット時の
出力端子状態
35
CONT4/SFSY
I/O
汎用入出力端子4。マイコンからのコマンドで制御する。サブコードフレーム同期
信号出力端子 (SFSY)と排他的な兼用端子。使用しない場合、入力ポートに設定し
て0Vに接続するか、出力ポートに設定してオープンにすること。
入力
37
SBSY
O
サブコードブロックの同期信号出力端子。
不定
38
TEST3
I
テスト用入力端子。プルダウン抵抗内蔵。必ず0Vに接続すること。
39
DOUT
O
ディジタルOUT出力端子。EIAJフォーマット。
不定
40
TEST4
I
テスト用入力端子。プルダウン抵抗内蔵。必ず0Vに接続すること。
41
16M/NGJ
O
16.9344MHz出力端子 (16M)とC2Fによるデータ接続点検出開始信号 (NGJ)
[L→H:検出開始]の兼用端子。マイコンからのコマンドで制御する。
クロック出力
42
4.2M
O
4.2336MHz出力端子。
クロック出力
43
EFLG
O
C1, C2, 1重, 2重の訂正モニタ出力端子。
不定
44
FSX
O
水晶発振から分周した7.35kHz同期信号出力端子。
不定
45
EMPH
O
ディエンファシス・モニタ出力端子。
「H」の時、ディエンファシス・ディスク再
生中。
L出力
46
C2F
O
C2フラグ出力端子。
不定
47
TOUT
O
テスト用出力端子。通常使用時、オープンにすること。
不定
48
MR1
I
58
49
MR2
I
50
TESD
I
テスト用入力端子。必ず0Vに接続すること。
51
MUTEL
O
XVDD
H出力
P
水晶発振用電源端子。
59
XOUT
O
16.9344MHz水晶発振動子の接続端子。
60
XIN
I
61
XVSS
P
水晶発振用接地端子。必ず0Vに接続すること。
62
RWC
I
64
63
COIN
I
マイコンからのコマンド入力端子。
CQCK
I
コマンド入力取り込みクロック または SQOUTからのサブコード取り出しクロック
入力端子。シュミット入力。
65
SQOUT
O
サブコードQ出力端子。
不定
36
CONT5/PW
I/O
汎用入出力端子5。マイコンからのコマンドで制御する。サブコードP, Q, R, S, T,
U, V, Wの出力端子 (PW)と排他的な兼用端子。使用しない場合、入力ポートに設定
して0Vに接続するか、出力ポートに設定してオープンにすること。
入力
DRAM選択端子。1M DRAM:H, L
4M DRAM:L, L
16M DRAM:L, H
4M DRAM×2:H, H (MR1, MR2の順)
1ビットDAC用
Lチャネル用ミュート出力端子。
Lチャネル用電源端子。
52
LVDD
P
Lチャネル出力端子。
53
LCHO
AO
L/Rチャネル用接地端子。必ず0Vに接続すること。
54
L/RVSS
P
Rチャネル出力端子。
55
RCHO
AO
Rチャネル用電源端子。
56
RVDD
P
Rチャネル用ミュート出力端子。
57
MUTER
O
H出力
リード/ライト制御入力端子。シュミット入力。
66
WRQ
O
サブコードQ出力スタンバイ出力端子。
不定
67
FMT
I
動作モード切換え。
「H」:ショックプルーフ 「L」:スルー。
68
EMPP
O
DRAM EMPTY (EMPTYでRZPパルス出力)
L出力
69
RES
I
外部リセット信号入力。
「L」:リセット (全ての内部ブロックを初期化)。
70
MMC0
O
DRAM残量出力。
L出力
71
MMC1
O
DRAM残量出力。
L出力
72
MMC2
O
DRAM残量出力。
L出力
73
MMC3
O
DRAM残量出力。
L出力
74
OVF
O
DRAMライト中断 (オーバーフロー&ショック時RZPパルス出力)
L出力
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