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DAC6571IDBVR Fiches technique(PDF) 5 Page - Texas Instruments |
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DAC6571IDBVR Fiches technique(HTML) 5 Page - Texas Instruments |
5 / 22 page www.ti.com DAC6571 SLAS406 – DECEMBER 2003 TIMING CHARACTERISTICS (continued) SYMBOL PARAMETER TEST CONDITIONS MIN TYP MAX UNITS Standard mode 4.0 µs tSU; tSTO Setup Time for STOP Condition Fast mode 600 ns High-speed mode 160 ns CB Capacitive Load for SDA and SCL 400 pF Fast mode 50 ns tSP Pulse Width of Spike Suppressed High-speed mode 10 ns Standard mode Noise Margin at the HIGH Level VNH for Each Connected Device Fast mode 0.2VDD V (Including Hysteresis) High-speed mode Standard mode Noise Margin at the LOW Level for VNL Each Connected Device Fast mode 0.1VDD V (Including Hysteresis) High-speed mode 5 |
Numéro de pièce similaire - DAC6571IDBVR |
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Description similaire - DAC6571IDBVR |
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