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FQPF4N90 Fiches technique(PDF) 5 Page - Fairchild Semiconductor |
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FQPF4N90 Fiches technique(HTML) 5 Page - Fairchild Semiconductor |
5 / 8 page Rev. B, October 2001 ©2001 Fairchild Semiconductor Corporation Vin VDS 10% 90% t d(on) t r t on t off t d(off) t f Vin VDS 10% 90% t d(on) t r t on t off t d(off) t f 3mA V GS DUT V DS 300nF 50KΩ 200nF 12V Same Type as DUT 3mA V GS DUT V DS 300nF 50KΩ 200nF 12V Same Type as DUT Gate Charge Test Circuit & Waveform E AS =LL IAS 2 ---- 2 1 -------------------- BVDSS -- VDD BVDSS E AS =LL IAS 2 ---- 2 1 E AS =LL IAS 2 ---- 2 1 ---- 2 1 -------------------- BVDSS -- VDD BVDSS BVDSS t p VDD IAS VDS (t) I D (t) Time BVDSS t p VDD IAS VDS (t) I D (t) Time Resistive Switching Test Circuit & Waveforms Unclamped Inductive Switching Test Circuit & Waveforms VDD V DS 10V DUT R G L I D VDD V DS 10V DUT R G L L I D I D Charge V GS 10V Q g Q gs Q gd Charge V GS 10V Q g Q gs Q gd VDD ( 0.5 rated V DS ) 10V VDS RL DUT RG VDD ( 0.5 rated V DS ) 10V VDS RL DUT RG |
Numéro de pièce similaire - FQPF4N90 |
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Description similaire - FQPF4N90 |
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